NOLA- Si è svolta ieri l’udienza di convalida degli arresti nei confronti di M.F.e P.R., i due giovani arrestati in piazza Duomo per resistenza a pubblico ufficiale. Il giudice Minauro del tribunale di Nola ha convalidato gli arresti e disposto che i due vengano rimessi in libertà (entrambi erano ai domiciliari). Il loro arresto era scattato martedì pomeriggio a seguito di un diverbio con un rappresentante della Polizia locale.
Secondo quanto emerso dopo i fatti, M.F. si trovava in piazza Duomo per scattare alcune fotografie. In particolare, secondo quanto dichiarato dinanzi il giudice, l’uomo stava documentando presunte infrazioni dei vigili urbani quando uno di questi lo avrebbe avvicinato chiedendogli cosa stesse facendo e chiedendo i documenti. Da qui sarebbe nata la baruffa cui ha preso parte anche P.R., anch’egli arrestato. Le accuse erano di resistenza a pubblico ufficiale perché i due avrebbero aggredito l’agente.
